當前位置:
深圳市泰立儀器儀表有限公司 >
產品中心 >
工業無損檢測 > 奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭V221-BA-RM
奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭V221-BA-RM
產品型號: |
V221-BA-RM |
品 牌: |
奧林巴斯 |
|
所 在 地: |
廣東深圳 |
更新日期: |
2024-12-07 |
| 品牌:奧林巴斯 | | 型號:V221-BA-RM | | 加工定制:是 | |
| 適用對象:探傷測厚儀探頭 | | 型號:V221-BA-RM | | 加工定制:是 | |
奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭V222-BB-RM
延遲塊探頭:
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭,其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。
延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率,可以測量更薄的材料厚度,并能提供更精確的厚度測量結果。延遲塊
可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上,而且還可用于高溫應用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭,專門與可更換的延遲塊一起使用。
優勢
• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能,適用于曲面工件。
應用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區域有限的工件進行檢測?筛鼡Q延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和一個固定環。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭
• 生成可垂直于檢測面傳播的橫波。
• 為了方便對齊,橫波極性的方向名義上與直角連接器呈一條 直線。
• 縱波與橫波分量的比率一般在-30 dB以下。
應用
• 橫波聲速測量。
• 楊氏彈性模量和剪切模量的計算。
• 材料顆粒結構的特性鑒定。
延遲塊系列
• 整合型延遲塊可以使測量在高頻下進行。
• 熔融石英延遲塊
• *大程度地降低了衰減性,并為晶片提供了物理意義上的保護。
頻率 |
標稱晶片尺寸 |
延遲 |
探頭工件編號 |
MHz |
英寸 |
毫米 |
微秒 |
5 |
0.25 |
6 |
7 |
V220-BA-RM |
10 |
0.25 |
6 |
7 |
V221-BA-RM |
20 |
0.25 |
6 |
7 |
V222-BA-RM |
0.25 |
6 |
7 |
V222-BB-RM |
0.25 |
6 |
4 |
V222-BC-RM |
奧林巴斯
Olympus公司是一家專營光學、電子及精密工程產品,涉及工業、醫療及消費市場的跨國公司。Olympus生產的儀器有助于保證產品質
量,提高基礎設施及設備的安全性。
Olympus NDT公司是全球領先的生產創新型無損檢測和測量儀器的企業。其生產的儀器應用于包括航空航天、電力、石油化工、民用
基礎設施、汽車以及消費產品在內的各種工業和研究領域。其掌握的前沿檢測技術包括超聲、超聲相控陣、渦流、渦流陣列、顯微鏡
檢查、光學計量,以及X光熒光分析。其生產的產品包括探傷儀、測厚儀、工業NDT系統及掃查器、視頻鏡、管道鏡、高速視頻攝像機、
顯微鏡、便攜式X光分析儀、探頭及各種輔助設備。
Olympus NDT公司的總部設在美國馬薩諸塞州的沃爾瑟姆,并在世界范圍內的各大主要工業地區都設有銷售和服務中心。
Panametrics超聲探頭
我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經驗的Olympus
NDT已經開發了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應用的各種各樣的定制探頭